XPS spektrumokhoz:

Az elérhetö források szerint az XPS-sel való kvantitatív (mennyiségi) analízishez legalább 10^12-10^13 atom/cm^2 kell. Ez meg is lenne, kissé szüken ugyan, de megvan. Kellenek hozzá standardok is, ha pontosságot akarunk, de erröl késöbb.

Nagyobb gond az, hogy az XPS hibája jó esetben (elég nagy mennyiségek) is legalább 5%. (Standardokkal ezek a hibák levihetök egy kicsit, erröl ld. késöbb). Ezek a hibák miért nincsenek feltüntetve az XPS plotokon (error bar)? Az itt mért mennyiségek egyébként csak egy nagyságrenddel vannak az XPS kvantitatív analízisnél szokásos kimutatási határa felett. Emiatt gyanítható az is, hogy még ez az 5% sem érhetö el.

(Megjegyzem, hogy magát az anyag jelenlétét az XPS sokkal kisebb mennyiségben is ki tudja mutatni. Erre sokkal érzékenyebb, de akkor már a mennyiség egyáltalán nem mérhetö, maximum nagyságrendileg becsülhetö).

Ismerve az XPS hibáját, az, hogy a mennyiségi kimutatáson pl. a Sr és Mo összege mindig pontosan kiadja a kiindulási Sr mennyiséget, szinte képtelenség. Gyanítom ezért, hogy ezek az adatok kozmetikázottak.

XPS-röl ld. pl.

http://dmxwww.epfl.ch/lmch/mathieu/script/esca.html

Amit nagyon jól lehet mérni vele, az pl. rétegvastagság (pl. 20 nm-es rétegeknél akár +- 0.1 nm). Erre nagy pontossággal müködik.

http://www.cem.msu.edu/~garrett/XPS.html

szerint standardokkal akár 1% is elérhetö lenne mennyiségileg. Standardok nélkül viszont csak szemikvantitatív elemzés végezhetö (ezt akkor szokták mondani, ha a hibák 10% nagyságrendbe esnek). Standard használatáról Iwamura egy szót sem ejt, nehezen is tudom elképzelni, hogyan tudott volna standardot készíteni ehhez a mintához, amit ö nagyon egzotikus magreakciók során létrejövönek gondolt. A standard készítése során mennyiségileg nagyon jól kontrollált körülmények között kellett volna ugyanannak, az itt még éppen csak kimutatni kívánt folyamatnak végbemennie, különbözö fokig, majd ezzekkel a mintákkal kalibrálni a müszert. Mondanom sem kell, ez nem megy.

Az, hogy nem tüntet fel olyan hibákat, amelyek várhatóan akár 10%-osak is lehetnek, valamint az, hogy a plotokon mindig annyira jól egyezik a termék és a kiindulási anyag mennyisége az eredetileg betáplált kiindulási anyaggal ekkor várható hibák mellett, az XPS spektrumokra nagyon gyanús fényte vet.